Automatic testing and evaluation of digital integrated circuits | Universitas Widya Kartika

Pencarian berdasarkan :

SEMUA Pengarang Subjek ISBN/ISSN Pencarian Spesifik

Pencarian terakhir:

{{tmpObj[k].text}}

No image available for this title

Penanda Bagikan

Automatic testing and evaluation of digital integrated circuits

James T. Healy - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

#

Belum memasukkan lokasi Belum memasukkan lokasi

91-0600-0025

Tersedia

Informasi Detail

Judul Seri: -
No. Panggil: 621.381 32 Hea a
Penerbit: : ., 1981
Deskripsi Fisik: xvii, p.236
Bahasa
ISBN/ISSN: 0-8359-0256-0
Klasifikasi: 621.381 32 Hea a
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: subyek
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: -

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar