Facebook
Twitter
Youtube
Github
Forum
Pilih Bahasa
Arabic
Bengali
Brazilian Portuguese
Cina
Korea
English
Espanol
German
Indonesia
Thai
Melayu
Persia
Universitas Widya Kartika
Beranda Depan
Info Perpustakaan
Area Anggota
Pustakawan
Bantuan Pencarian
MASUK Pustakawan
Koleksi
Kembali
Pencarian
Pencarian
Pengarang
SEARCHING...
Subyek
SEARCHING...
ISBN/ISSN
GMD
Semua GMD/Media
Art Original
Cartographic Material
CD-ROM
Chart
Computer File
Computer Software
Digital Versatile Disc
Diorama
Electronic Resource
Equipment
Filmstrip
Flash Card
Game
Globe
Kit
Laporan Kerja Praktek dan Seminar
Manuscript
Map
Microform
Microscope Slide
Model
MODUL
Motion Picture
Multimedia
Music
Picture
PROCEEDING
Realia
Skripsi Program Studi Akuntansi
Skripsi Program Studi Bahasa Inggris
Skripsi Program Studi Bahasa Tionghoa
Skripsi Program Studi Manajemen
Skripsi Program Studi Teknik Informatika
Slide
Sound Recording
Technical Drawing
Text
Transparency
Video Recording
Tipe Koleksi
Semua Koleksi
ARTIKEL
E-BOOKS
E-JURNAL
Fiction
LAPORAN PENELITIAN
Makalah
Reference
Seminar
SKRIPSI
TA
TESIS
Textbook
Tugas Akhir Mandarin
Lokasi
Semua Lokasi
My Library
Pencarian Spesifik
Ditemukan
1
dari pencarian Anda melalui kata kunci:
Author :
"James T. Healy"
Permintaan membutuhkan
0.07528
detik untuk selesai
XML Result
Automatic testing and evaluation of digital integrated circuits
Pengarang
: James T. Healy -
Detail Cantuman
Bagikan:
Informasi
Akses Katalog Publik Daring - Gunakan fasilitas pencarian untuk mempercepat penemuan data katalog
Gugus Pencarian
Membuat gugus pencarian ...
